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半导体动力学测试系统

产品简介:半导体动力学测试系统

理化公司提供一对一解决方案以及技术支持

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更新时间:2026-04-30

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产品介绍

半导体动力学测试系统

面向半导体材料 / 器件(Si/SiC/GaN/ 有机 / 钙钛矿)的载流子动力学 + 瞬态光电 + 功率器件动态特性一体化测试平台,理化仪器提供一对一专属方案与全周期技术支持

1. 载流子动力学(材料级)

  • 瞬态光电压 / 光电流(TPV/TPC)、时间分辨荧光(TRPL)、飞行时间(TOF)迁移率。

  • 深能级瞬态谱(DLTS)、电荷抽取(CE)、线性增压载流子(CELIV)。

  • 解析参数:载流子寿命、迁移率、扩散长度、缺陷态密度、界面复合速率。

2. 功率器件动态特性(器件级)

  • 双脉冲测试(DPT):开通 / 关断时间、上升 / 下降时间、开关损耗、反向恢复特性。

  • 动态 Rds (on)、栅极电荷 Qg、短路耐受能力(SCSOA)、体二极管退化测试。

  • 适配:MOSFET/IGBT/SiC-MOSFET/GaN-HEMT,覆盖 600V–10kV、10A–1kA。

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